FIS4-HR高分辨率四波干涉传感器
FIS4-HR高分辨率四波干涉传感器

FIS4-HR高分辨率四波干涉传感器

High‑Resolution Four‑Wave Interferometric Sensor

使用于光束波前检测、自适应光学、平面面形测量、光学系统校准、光学窗口片检测、光学平面、球面面形测量、表面粗糙度检测

400~1100nm 波长范围
300*300 相位分辨率
10nm RMS 绝对精度
高分辨率体积小巧 应用行业

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FIS4-HR高分辨率四波干涉传感器——应用案例

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