FIS4 检测透射波前，本质是直接量化光穿过元件之后的相位畸变，完整表征光学元器件真实工作性能；不仅用于产品合格判定，还能反向指导抛光、镀膜、装调工艺优化，把光学质量从 “表面指标管控” 升级到 “实际光路性能管控”。